偏光片離型膜在當(dāng)今光學(xué)薄膜、微電子薄膜、抗氧化薄膜、巨磁電阻薄膜、高溫超導(dǎo)薄膜等領(lǐng)域應(yīng)用越來越廣泛。工業(yè)應(yīng)用中的PET聚酯薄膜，其厚度是一個非常重要的參數(shù)，直接關(guān)系到該薄膜材料能否正常工作。

如大規(guī)模集成電路的生產(chǎn)工藝中的各種薄膜，電路集成程度的不斷提高，薄膜厚度的任何細(xì)微改動，對集成電路的功用都會發(fā)作直接的影響。除此之外，偏光片離型膜力學(xué)功用，透光功用，磁功用，熱導(dǎo)率，表面規(guī)劃等都與厚度有著接近的聯(lián)絡(luò)。

在我們對能準(zhǔn)確測量薄膜厚度方法的火燎需要下，相應(yīng)地，發(fā)作了許多測量薄膜厚度的方案。在往常需要不是很嚴(yán)峻的條件一般選用游標(biāo)卡尺一東西來檢驗PET薄膜的厚度；而在需要高精密度的情況下如今則選用光學(xué)方法，它相對于其它類方法具有快速、準(zhǔn)確和不損傷薄膜等利益。

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